シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | 東京 : 早稲田大学出版部 , 1991.4 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | xvii, 313p : 挿図 ; 22cm |
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| 別書名 | 異なりアクセスタイトル:新テスト理論 : 教育情報の構造分析 |
|---|---|
| 一般注記 | 参考文献: p301-309 |
| 著者標目 | *竹谷, 誠 (1941-) <タケヤ, マコト> |
| 件 名 | BSH:教育評価 |
| 分 類 | NDC8:371.7 NDC7:371.8 NDLC:FC63 |
| 書誌ID | BB10123675 |
| 巻冊次 | ISBN:4657914162 ; PRICE:4841円 |
| NCID | BN06351080 |
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