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シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著

データ種別 図書
出版情報 東京 : 早稲田大学出版部 , 1991.4
本文言語 日本語
大きさ xvii, 313p : 挿図 ; 22cm

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ポーアイ 2階 W6 10638057 371.7/2
4657914162


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別書名 異なりアクセスタイトル:新テスト理論 : 教育情報の構造分析
一般注記 参考文献: p301-309
著者標目  *竹谷, 誠 (1941-) <タケヤ, マコト>
件　名 BSH:教育評価
分　類 NDC8:371.7
NDC7:371.8
NDLC:FC63
書誌ID BB10123675
巻冊次 ISBN:4657914162 ; PRICE:4841円
NCID BN06351080
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