ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版者 | 京都 : ナカニシヤ出版 |
| 出版年 | 2023.3 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 大きさ | viii, 223p ; 21cm |
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| 別書名 | 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education |
|---|---|
| 著者標目 | Gergen, Kenneth J. Gill, Scherto R. 東村, 知子 <ヒガシムラ, トモコ> 鮫島, 輝美 <サメシマ, テルミ> |
| 件 名 | BSH:教育評価 NDLSH:教育評価 |
| 分 類 | NDC9:371.7 NDC10:371.7 NDLC:FC63 |
| 書誌ID | BB71069589 |
| 巻冊次 | ISBN:9784779517044 ; PRICE:2500円+税 |
| NCID | BD00745593 |
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